谱量光电 | 积分球测试系统全攻略:从薄膜透反射到荧光/电致发光量子效率

发布时间:2025-11-17 13:40:14 人气:

OLED/钙钛矿研究必备:一站式解决光致发光与电致发光测量难题


前言

Introduction

在光电器件与新型材料的研究中,精确的光学与电学性能测试是理解材料特性、优化器件结构的关键环节。

谱量光电(PLCTS)针对科研院所及企业实验室的多样化需求,推出了覆盖透反率测试光致发光测试电致发光测试三大类的光电测试系统,助力高精度材料表征与器件性能分析。

Product Overview

产品概览

01

谱量光电光电测试系统采用模块化设计,集成光源、积分球、光谱仪、源表及测控软件等于一体,支持多类型样品测试。系统具备操作简便、数据准确、兼容性强等特点,适用于二维材料、量子点薄膜、OLED、钙钛矿、光电探测器等材料。

透反率测试系统 | PSC-TR

光致发光测试系统 | PLEY-M

电致发光测试系统 | ELCY-M


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模块化搭配:光源、探测器、积分球可灵活组合 

支持样品:薄膜、芯片、器件、透明基底等

核心性能参数

透反率测试系统参数

光致发光测试系统参数

电致发光测试系统参数


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Software Interface

软件界面展示

02



光电测试系统软件界面↑

配套软件支持光谱采集、暗电流校正,并具备透射、反射、吸收、PL、EL 等多模式测量功能。系统可快速获得透射率、反射率、吸收率、PLQY、EL 光谱、J–V–L 曲线、EQE 等关键光电参数。

1

一体化软件平台:从材料光谱到器件性能测试无缝切换

2

高灵敏探测与多功能数据分析:支持光谱、强度、电流、电压、EQE等多维数据 

3

数据可溯源与导出:可导出数据到txt文件,便于后续处理。

SCIENCE TECHNOLOGY

典型样品,实测展示

03

①薄膜样品光致发光(PL)实测光谱

不同光功率,荧光光谱曲线对比图↑

不同激发功率下,薄膜样品的发射峰位置保持一致,约位于 370 nm 与 550 nm 附近,峰形对称且无明显红移。随着激发功率从低到高,荧光强度呈线性增强,表明样品具有良好的光致发光响应特性和稳定的能带结构。该结果可用于评估薄膜材料的缺陷态密度、复合效率及发光均匀性。


②透射率测试数据(蓝光薄膜)↓

↑从透射率测试看,这个“蓝光薄膜”实际上是一个整体 >90% 透明的轻微蓝色滤膜,在 380 nm 附近有一定吸收,但 400–1100 nm 基本没有吸收。光谱完全正常


③反射率测试数据(蓝光薄膜)↓

↑可见光区(尤其红光)反射率偏低,进入近红外后反射率快速上升。吸收谱与颜色一致,说明样品在红橙区域强吸收,在蓝紫区吸收弱。


④PLQY测试(绿光薄膜)↓

↑该绿光薄膜 PL 测试非干净,荧光发射峰位于约 550 nm,峰形尖锐,背景噪声低,PLQY ≈30% 属于绿光材料自然表现。


⑤电致发光测试数据(LED灯珠)↓

↑该图展示了蓝光 LED 灯珠的电致发光特性,开启电压约 2.5V,EL 峰值约 450 nm,EQE ≈10%,光谱稳定,没有红移或多峰问题,色坐标落在标准蓝光区。

SCIENCE TECHNOLOGY

数据导出与后期分析

04


支持导出测试数据到txt文件↑

蓝光薄膜反射率光谱测试(软件实时采集界面)↑

蓝光薄膜的透射率与吸收率光谱测试(由导出数据绘制)↑

通过软件采集界面截图与导出数据绘制图对比,可以看到导出数据与软件采集曲线在光谱形状、特征峰位置和整体趋势上完全一致,未出现数据缺失或偏差,说明导出数据完整可靠,可直接用于后续分析与绘图。


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