Keithley源表推荐与典型测试介绍

发布时间:2025-11-19 08:54:12 人气:

Keithley源表推荐与典型测试介绍


前言

源测量单元(Source Measure Unit,简称 SMU,又称“源表”)是一类能够同时精确输出电压/电流同步测量响应信号的高端电子测试设备。相比传统电源和万用表分离的方式,SMU 在同一次接线中即可完成源出与测量,具备更高的精度、更快的速度以及更强的稳定性,是 I-V 特性测试材料电学表征半导体器件验证传感器校准纳米与微电子研究等应用的核心仪器。


全球众多 SMU 品牌中,Keithley 是最具代表性的制造商之一,其产品以高精度、低噪声和丰富的软件生态闻名。Keithley 旗下拥有多条典型源表系列,例如:

2400 系列

经典通用型,高精度、应用广


2450等图形化源表

带触屏、操作友好,适合材料与半导体研究


2600B 系列

双通道高速源表,适合自动化测试与生产线


DMM7510 + 外部源

在部分高阻测试场景可作为替代方案


科研常用 Keithley 源表型号概览

在高校实验室与科研院所的电学测试中,最常见的 Keithley SMU 型号有 24502602B2612B 2636B,它们分别针对不同应用场景进行了优化:

2450图形化源表

具备高分辨率触控界面与直观操作流程,内置丰富测试脚本,适合材料电性表征、二维材料器件、薄膜与传感器研究等通用电学测试。其高精度、易上手,是实验室日常 I-V/T-V 测试的标配型号。

2602B 双通道高速源表

配备两个独立且完全对称的 SMU 通道,具备更快的测量速度与脚本处理能力,适合需要并行操作的测试场景,如双电极器件、批量参数扫描、自动化设备集成等。

2612B 双通道高精度源表

侧重更高的测量精度与更低噪声表现,同样提供双通道结构,适用于高阻材料、高精度传感器、低电流测试以及需要高稳定度的科研实验。

2636B 超高灵敏度双通道源表

具备皮安(pA)级甚至飞安(fA)级的超低电流测量能力,是研究纳米器件、二维材料、单电子器件、光电探测器等弱信号应用的核心选择。


Keithley 源表可完成的典型测试



Keithley 源表(SourceMeter)兼具高精度电压/电流源与高分辨率测量表功能,可在单次连接中实现 源出—测量同步,广泛覆盖从基础物理参数复杂器件特性表征的各类实验。以下列出科研与工程中最常见的测试类型及应用场景。

01

I–V 曲线测试(电流–电压特性)

用途: 用于分析二极管晶体管太阳能电池光电探测器等器件的导通、击穿、饱和与非线性特性。

发光二极管

晶体管

02

电阻与电导测试(R–I–V 关系)

用途: 测量材料薄膜导电聚合物透明电极ITO二维材料等样品的电阻或电导率。

透明导电膜(透明电极)

03

漏电流与暗电流测试

用途: 用于评估二极管光电探测器纳米器件的反向漏电流;或测量材料表面绝缘性。

光电探测器

04

传感器偏置与响应测试

用途: 对温度传感器光电二极管压阻/气体传感器进行工作偏置与信号输出测量。

光电二极管

05

光电器件测试

用途:

  • 评估 LED 的正向伏安特性与发光启动电压。

  • 测量太阳能电池的光照 I–V 曲线及最大功率点。

  • 分析探测器的光响应曲线。

太阳能电池

06

电容-电压 (C–V) 与击穿测试

用途: 用于 MOS 结构绝缘层介质薄膜等器件的电容、电荷积累和击穿特性分析。

MOS管

07

脉冲 I–V / 动态响应测试

用途: 分析功率器件有机电子器件在脉冲电压下的瞬态电流响应。 用于评估自热效应、击穿动态与开关性能。

功率器件

08

柔性电子与二维材料电学表征

用途: 对石墨烯、MoS₂、WSe₂、黑磷、钙钛矿等二维材料及其异质结的电学特性进行精密测量。

双层石墨烯异质结



吉时利源表选型与购买

吉时利源表不仅是我司各系列探针台以及电致发光测试系统的配套测试设备,同时也支持单独选购,作为高校实验室、科研院所和工程测试中常用的高精度电学测量仪器。欢迎广大客户联系,咨询,订购吉时利源表或旗下其他测试仪器。

谱量光电ELCY-M系列电致发光测试系统(使用2450源表)


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