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半导体器件探针台测试服务

半导体器件探针台测试服务测试服务 / 电学探针半导体器件探针台测试服务面向晶圆级与裸片器件，提供 I-V、C-V、漏电与击穿等基础电学参数测试服务。适用样品晶圆

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产品介绍

半导体器件探针台测试服务

测试服务 / 电学探针

半导体器件探针台测试服务

面向晶圆级与裸片器件，提供 I-V、C-V、漏电与击穿等基础电学参数测试服务。

适用样品

晶圆 / 裸片 / 器件芯片

测试能力

I-V · C-V · 击穿 · 漏电

I-V 特性测试

C-V 测试

漏电与击穿

设备图片

探针台.png

仪器信息

精密电学测试探针台系统

设备型号：

谱量光电 TLRH 系列精密探针台

KEITHLEY 2450 数字源表

适用样品：

• 晶圆级器件

• 芯片裸片

• 光电探测器 / 晶体管 / MOS 管等

测试能力：

• I-V 特性测试

• C-V 测试

• 漏电流与击穿电压

• 导通与接触电阻

数据展示

CV测试.jpg

导通测试.png

提供测试项目

电学参数测试

I-V 特性

C-V 曲线

漏电测试

击穿电压

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